硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數據實時顯示
具有輸出接口,可選配適配器實現232接口功能
技術指標
測量范圍:0~12.7mm
分辨率:0.001mm
外形尺寸:300mm(L)×200(B)×340mm(H)
凈重:20kg
標準
GB/T 1876-2007
![]()
典型用戶江蘇,浙江,廣東,湖南,內蒙古,河南,河北,韓國,日本,新加坡等地的國內外客戶。
硅片厚度測試儀
2026-05-01 10:00 3387次瀏覽硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數據實時顯示
具有輸出接口,可選配適配器實現232接口功能
技術指標
測量范圍:0~12.7mm
分辨率:0.001mm
外形尺寸:300mm(L)×200(B)×340mm(H)
凈重:20kg
標準
GB/T 1876-2007
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典型用戶江蘇,浙江,廣東,湖南,內蒙古,河南,河北,韓國,日本,新加坡等地的國內外客戶。
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