HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
無接觸式電阻率型號測試儀-產品特點
■ 測試范圍廣，低阻可測至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可測至100ohm.cm
■ 產品體積小，便于移動和攜帶
■ 采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■ 無接觸、無損傷快速測試
■ 測試前無需表面處理
■ 特別對于多晶，能夠有效避免晶界對測試的影響
■ 測試范圍：0.001-100 ohm.cm (分段測試）
■ 可選加無接觸PN型號測試功能
■ 可進行溫度和厚度的修正
無接觸式電阻率型號測試儀-技術指標
■硅棒硅塊可測量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
■最小測試厚度：200μm
■測量時間：2秒/次
■最小測試面積：30x30 mm2
■推薦使用溫度：20℃
■濕度：≤80%
■氣壓：86-106kPa
■使用電壓：230±10V
■頻率，50±3Hz
■功率消耗：≤5W
■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
典型客戶
美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。