Helios-PL光致發光測試系統能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析，能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產工藝。
產品特點：
■ 適用幾乎所有類型太陽能電池：
單晶硅片及電池/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池
■ 完整的檢測系統：
少子壽命掃描/串聯電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線
■ 速度快，每片測試時間小于1秒
■ 精度高，能實時找到每個致少子壽命降低的缺陷
■ 可以監控和優化關鍵工藝，包括擴散、去磷硅玻璃等等
■ 可以在線和離線分析
■ 功能強大的分析軟件，可以分析幾乎所有的缺陷
■ 先投入先產出，投入產出比遠高于行業的1：2
■ 革命性的產品，未來的趨勢所在
技術參數：
■ 銦砷鎵傳感器：900-1500nm
■ 測試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm
■ 像素：752×480pixel
■ 尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg
■ 每片測試時間<1s
典型客戶:
美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。